冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

　　儀器名稱：冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 Cold-Field Emission Scanning Electron Microscope

　　儀器廠商：Hitachi 

　　儀器型號(hào)：SU8010 

　　放置地點(diǎn)：生態(tài)樓109 

　　技術(shù)咨詢：李春勇（0731-84619737） 

　　關(guān)鍵配置與技術(shù)指標(biāo)：加速電壓：0.1KV-30KV；分辨率：15KV分辨率可達(dá)1.0nm；1KV分辨率可達(dá)1.3nm；觀測(cè)倍率：20～8000000倍；可進(jìn)行二次電子（SE）成像，背散射電子（BSE）成像；配備X射線能譜儀，可進(jìn)行微區(qū)元素成分分析，分析范圍Be4~U92。 

　　主要用途： 用于觀察樣品表面超微結(jié)構(gòu)；進(jìn)行微區(qū)成分分析。 

　　待測(cè)樣品要求：固體樣品，樣品需干燥不含水，無(wú)磁性、無(wú)放射性、無(wú)毒性、無(wú)揮發(fā)性等潛在危害，耐電子束；樣品高度＜1.5cm，直徑≤5cm；含水生物樣品需要脫水干燥等。